无狭缝平场 XUV 光谱仪和光束分析仪
光源直接成像， 1 -200nm 平场光谱仪； 无狭缝设计提供一流效率: 没有对对准敏感的入射狭缝； ~20倍于常规光谱仪的光线收集能力，并成比例的提高信噪比。
TDS太赫兹时域光谱系统
BATOP一直致力于太赫兹光电导天线（PCA）和太赫兹时域光谱仪系统（THz-TDS）的研发。他们自主研发的太赫兹时域光谱仪性能稳定，各项参数优秀，功能多样：1.可实现快速扫描，2.配合外置的光纤耦合天线实现角度扫描、成像等功能。
光谱透射测量应用解决方案
透射光谱法根据光透过样品后所呈现的光谱来表征样品的某些特征，具有测量精度高、测量范围广、非破坏性、在线快速测量及一次性可同时测定样品的多个参数等诸多优点，广泛应用在科研和工业领域。
APE：高分辨率光谱仪WaveScan
光谱仪，又称分光仪，广泛的认知为直读光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线，不同波长位置强度的装置。其构造由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。
KEWLAB推出RGB系列微型光纤光谱仪
KEWLAB正式推出RGB系列微型光纤光谱仪产品线。目前这个产品线包含宽光谱通用型光谱仪RGB-ER-CL和高分辨率高灵敏度可见光-近红外版本RGB-VIS-NIR-CL。