APE的Carpe自相关仪是用来直接测量激光脉冲在一个采样位置的脉宽，它非常适合用于显微系统或光刻系统。
Carpe自相关仪
Carpe自相关器可以测量在样品位置(例如在显微镜光学后面)、在激光和样品之间的任何其他位置的脉冲宽度。比较这两个位置获得的脉冲宽度，可以计算脉冲展宽或脉冲宽度一个预啁啾的优化。
支持在样品位置的额外功率测量(可选)，也支持用于对激光超短脉冲质量的系统的定量研究。
- 在样品位置和显微镜输入前测量脉冲宽度
- 测量样品位置的平均功率(可选)
- 根据脉冲宽度估计峰值功率
- 可选项: 短工作距离，例如浸没物镜
- 可选项: 前置啁啾femtoControl用于脉冲压缩和色散补偿
应用：优化显微成像
通过检查激光脉宽、功率和显微镜光学色散的影响，您可以微调和优化在相关位置的显微镜成像。
这些测量也可以用大的NA(数值孔径)或浸没透镜来完成。
应用布局示例
Carpe 自相关仪性能参数
| 可测脉宽 | 50 fs~3.5 ps; 可选: 30 fs~3.5 ps |
| 波长范围 (样品位置脉宽测量) | 700~1100 nm或者1250~2000 nm |
| 波长范围 (样品位置能量测量) | 700~1000 nm |
| 可测功率范围 | 0~30 mW, 0~300 mW |
| 激光重频 | >100 kHz |
| 工作距离 | >0.5 mm或者<0.5 mm |
| 输入偏振 | 水平偏振 |
| 尺寸 | 295x173x180 mm |
| 供电 | 95~240V, 50~60Hz, 60W |
产品资料：APE Carpe rev.4.1.1
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