Carpe自相关仪

Carpe自相关仪

APE的Carpe自相关仪是用来直接测量激光脉冲在一个采样位置的脉宽,它非常适合用于显微系统或光刻系统。

Carpe自相关器可以测量在样品位置(例如在显微镜光学后面)、在激光和样品之间的任何其他位置的脉冲宽度。比较这两个位置获得的脉冲宽度,可以计算脉冲展宽或脉冲宽度一个预啁啾的优化。

支持在样品位置的额外功率测量(可选),也支持用于对激光超短脉冲质量的系统的定量研究。

  • 在样品位置和显微镜输入前测量脉冲宽度
  • 测量样品位置的平均功率(可选)
  • 根据脉冲宽度估计峰值功率
  • 可选项: 短工作距离,例如浸没物镜
  • 可选项: 前置啁啾femtoControl用于脉冲压缩和色散补偿

应用:优化显微成像

通过检查激光脉宽、功率和显微镜光学色散的影响,您可以微调和优化在相关位置的显微镜成像。

这些测量也可以用大的NA(数值孔径)或浸没透镜来完成。

应用布局示例

 

Carpe 自相关仪性能参数

可测脉宽50 fs~3.5 ps; 可选: 30 fs~3.5 ps
波长范围 (样品位置脉宽测量)700~1100 nm或者1250~2000 nm
波长范围 (样品位置能量测量)700~1000 nm
可测功率范围0~30 mW, 0~300 mW
激光重频>100 kHz
工作距离>0.5 mm或者<0.5 mm
输入偏振水平偏振
尺寸295x173x180 mm
供电95~240V, 50~60Hz, 60W

 

产品资料:APE Carpe rev.4.1.1

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