XUV/VUV光谱仪

XUV/VUV光谱仪

H+P公司的XUV/VUV光谱仪采用平面掠入射具有像差校正的特点,三块光栅波长范围分别为1-20nm,5-80nm和40-200nm,总波长覆盖范围为1nm-200nm.光谱仪采用无狭缝入射能够提高光谱仪灵敏度。模块化设计能够满足不同实验的结构配置需求。它集成了狭缝固定架、滤波插入装置以及光栅电动定位装置。

我们的XUV/VUV光谱仪具有像差校正的平场波长覆盖范围从1nm到200nm。宽带光谱测量可以通过覆盖1-20nm、5-80nm和40-200nm的三个光栅实现。光谱仪可以在没有入口狭缝的情况下使用,以最大限度地收集光源距离范围内的光。它的模块化设计能够匹配不同的实验几何形状和配置。它具有一个集成的狭缝夹和过滤器插入单元,以及一个电动光栅定位。

特点:

  • 平场入射光栅光谱
  • 单光栅波长范围覆盖5-80nm
  • 也可以选择1-5nm光谱
  • 三种不同的几何结构
  • 不同的探测器选择:X-ray CCD相机或MCP锥形光纤
  • 工作气压<10-6mbar,也可以提供无油气泵的独立真空系统
Wavelength [nm] 1-10 3-20 5-40 10-60 25-80 40-200
Operation mode slit-less slit-less slit-less slit-less slit-less slit-less
Source distance [m] flexible flexible flexible flexible flexible flexible
Flat-field size [mm] 35 45 21 50 50 100
Dispersion [nm/mm] 0.2 – 0.35 0.3 – 0.4 0.5 – 0.65 0.7 – 1.1 0.9 – 1.3 ≈ 2.0
Resolution [nm] < 0.03 < 0.035 < 0.06 < 0.09 < 0.11 < 0.15

* Other configurations (spectral range, slit operation, high-resolution, etc) available upon request.

定制:

每一个光谱仪都是定制的,完全符合所需的应用,例如。

  • 与实验室的接口
  • 源距自适应
  • 集成客户提供的探测器
  • 用户定义的过滤器安装

下面的图像可以证明XUV光谱仪的测量能量。它展现的是滤波后的单发飞秒激光脉冲的高次谐波谱。上面的图显示了x-ray CCD探测到的原始影像,而下面的图显示的是柱条叠加后的谐波图谱。这个过程都由XUV光谱仪自动完成。

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